Usata Test E Misurazione

2011 HMI eScan 400

• Produttore: HMI
• Modello: Escan 400

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione dei difetti della trave E | Spedizione: EXW

Chint Power Smart COMBOX - CHINT POWER

2005 RUDOLPH MP-300

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

2008 RUDOLPH MP1-300XCU

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

2007 RUDOLPH MP300

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 8" | Processo: Misurazione dello spessore del film | Spedizione: EXW

NEXTEST MAGNUM PV SCM

• Produttore: SCM / SCMI

Dimensione del wafer: 8, 12" | Spedizione: EXW

NIKON AMI-3300

• Produttore: Nikon
• Modello: AMI-3300

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

2006 RUDOLPH MP-300

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

2012 RUDOLPH MP3_300A

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

RUDOLPH MP3_300XCU

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

SECRON IP 300

• Produttore: SECRON

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Prober | Spedizione: EXW`

2007 RUDOLPH RUDOLPH MP1-300

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

2009 RUDOLPH MP300

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 8" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

1997 KLA AIT

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: AIT

Dimensione del wafer: 8" | Processo: MET | Spedizione: EXW

LEICA INM300 Wafer Inspection

• Produttore: Leica