2010 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC
- Produttore: Nanometrics
- Modello: CALIPERMOSAIC
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Sovrapposizione | Spedizione: EXW`
Corea del Sud
2012 RUDOLPH S3000A
- Produttore: Rudolph
- Modello: S3000A
Dimensione del wafer: 8 " | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato | Camera: EXW
Corea del Sud
KLA_TENCOR P-12
- Produttore: KLA_TENCOR
Dimensione del wafer: 6",8" | Processo: PROFILATORE DISCO | Spedizione: EXW
Corea del Sud
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RUDOLPH FE-4D
- Produttore: Rudolph
Dimensione del wafer: 8 " | Processo: Ellissometro a fuoco | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2008 LASERTEC BGM 300
- Produttore: Lasertec
Dimensione del wafer: 8 " | Processo: SISTEMA DI ANALISI E VISUALIZZAZIONE DELLA SUPERFICIE DEL WAFER | Spedizione: EXW
Corea del Sud
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2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)
- Produttore: J.A.WOOLLAM
Dimensione del wafer: 8 " | Processo: ELLIPSOMETRO | Spedizione: EXW
Corea del Sud
RUDOLPH Meta Pulse
- Produttore: Rudolph
- Modello: Metapulse
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW
Corea del Sud
RUDOLPH Meta Pulse 300
- Produttore: Rudolph
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2010 RUDOLPH WS3840
- Produttore: Rudolph
- Modello: WS3840
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Metrologia 3d delle protuberanze | Spedizione: EXW`
Corea del Sud
JEOL JWS-7515
- Produttore: Jeol
- Modello: JWS-7515
Dettagli: Ispezione dei wafer | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: JEOL JWS-7515 Ispezione dei wafer
Corea del Sud
2006 HITACHI IS2700E
- Produttore: Hitachi
- Modello: IS2700SE
Dimensione del wafer: 12" | Dettagli: Ispezione con fascio E | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: Ispezione del fascio E HITACHI IS2700SE
Corea del Sud
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