Usata Test E Misurazione

Scheda driver a 4 assi ASYST 13572-003

• Produttore: Asyst

Mpn: 13572-003 | Tipo di attrezzatura: Scheda controller robot

TOKYO ELECTRON TS 3286-004468-11 SCHEDA (WDF8DP) IN/OUT (BR2.1B4)

• Produttore: Tokyo Electron - TEL
• Modello: WDF DP

Mpn: TS 3286-004468-11

Generatore RF Trumpf TruPlasma Coax 3010 da 10 kW 1790270 e regolatore di potenza 1697081

• Produttore: Trumpf

Mpn: 1697081 | Tipo di attrezzatura: GENITORE RF

2003 NIKON, OPTIPHOT-300D, Microscopio di ispezione

• Produttore: Nikon
• Modello: Optiphot 300

Numero di serie.: 625331 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Microscopio di ispezione | Attrezzatura: Microscopio di ispezione | Descrizione: Stadio 14x10, wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

2012 KOH YOUNG, KY-7100, macchina automatica per l'ispezione ottica 3D

• Produttore: Koh Young
• Modello: KY7100

Numero di serie.: AOI-S001 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Macchina di ispezione ottica automatica 3D | Attrezzatura: Macchina di ispezione ottica automatica 3D | Descrizione: 208VAC, 1Fase, 50/60Hz

1999 PLASMOS, SD2002, ELLISSOMETRO

• Produttore: Plasmos

Numero di serie.: 5094.06.94 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: ELLIPSOMETRO | Attrezzatura: ELLIPSOMETRO | Descrizione: Wafer 300 mm | Monitor video: 9M200A | Elettrofisica: Sistema di messa a fuoco au...

MKS, P99A-28229, Regolatore di pressione

• Produttore: MKS

Numero di serie.: 10XX09 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Controllore di pressione | Attrezzatura: Controllore di pressione | Descrizione: Gas N2, gamma 1000SCCM, 1000Torr

2010 AIT, AVIS-5000N, Sistema di ispezione di wafer a LED

• Produttore: AIT

Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Sistema di ispezione dei wafer a LED | Attrezzatura: Sistema di ispezione dei wafer a LED | Descrizione: Wafer da 2~6"

2003 Nikon, OPTIPHOT-300D, Microscopio da ispezione

• Produttore: Nikon
• Modello: Optiphot 300

Numero di serie.: 625331 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Microscopio di ispezione | Attrezzatura: Microscopio di ispezione | Descrizione: Stadio 14x10, wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

1996 Nanometrics Nanospec8000

• Produttore: Nanometrics
• Modello: Nanospec

Processo: MET | Spedizione: EXW

2011 HMI eScan 400

• Produttore: HMI
• Modello: Escan 400

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione dei difetti della trave E | Spedizione: EXW

Chint Power Smart COMBOX - CHINT POWER

2005 RUDOLPH MP-300

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

2008 RUDOLPH MP1-300XCU

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

2007 RUDOLPH MP300

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 8" | Processo: Misurazione dello spessore del film | Spedizione: EXW