JEOL JWS-7515
- Produttore: Jeol
- Modello: JWS-7515
Dettagli: Inseparazione del wafer | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: JEOL JWS-7515 Ispezione dei wafer
Corea del Sud
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2001 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC
- Produttore: Nanometrics
- Modello: CALIPERMOSAIC
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Sovrapposizione | Spedizione: EXW`
Corea del Sud
2010 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC
- Produttore: Nanometrics
- Modello: CALIPERMOSAIC
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Sovrapposizione | Spedizione: EXW`
Corea del Sud
2010 RUDOLPH S3000A
- Produttore: Rudolph
- Modello: S3000A
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato | Spedizione: EXW
Corea del Sud
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2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I
- Produttore: Valley
- Modello: JVX6200I
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Metrologia a raggi X (riflettività a raggi X) | Spedizione: EXW
Corea del Sud
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RUDOLPH Meta Pulse
- Produttore: Rudolph
- Modello: Metapulse
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2012 RUDOLPH S3000A
- Produttore: Rudolph
- Modello: S3000A
Dimensione del wafer: 8" | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato | Camera: EXW
Corea del Sud
KLA_TENCOR P-12
- Produttore: KLA_TENCOR
Dimensione del wafer: 6",8" | Processo: PROFILATORE DISCO | Spedizione: EXW
Corea del Sud
SEMITOOL WST305M
- Produttore: Semitool
- Modello: WST305M
Processo: Cu PLTNG | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Produttore: Leica
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Produttore: Leica
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
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