Semiconduttori » Metrologia / Ispezione (semiconduttori) » Corea del Sud

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Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori) in Corea del Sud

  • RUDOLPH S3000A

    RUDOLPH S3000A

    • usata

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: S3000A

    Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • LINDA IN5-HI

    LINDA IN5-HI

    • usata

    • Produttore: LINDA

    Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • RUDOLPH FE-3

    RUDOLPH FE-3

    • usata

    • Produttore: Rudolph

    Dimensione del wafer: 8 " | Processo: Ellissometro a fuoco | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2008 RAYTEX RXW-800

    2008 RAYTEX RXW-800

    • usata

    • Produttore: RAYTEX

    Dimensione del wafer: 8 " | Processo: SCANSIONE DEL BORDO | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • RUDOLPH Meta Pulse

    RUDOLPH Meta Pulse

    • usata

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: Metapulse

    Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • RUDOLPH Meta Pulse 300

    RUDOLPH Meta Pulse 300

    • usata

    • Produttore: Rudolph

    Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2010 RUDOLPH WS3840

    2010 RUDOLPH WS3840

    • usata

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: WS3840

    Dimensione del wafer: 12" | Processo: Metrologia 3d delle protuberanze | Spedizione: EXW`

    Corea del Sud
  • JEOL JWS-7515

    JEOL JWS-7515

    • usata

    • Produttore: Jeol
    • Modello: JWS-7515

    Dettagli: Ispezione dei wafer | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: JEOL JWS-7515 Ispezione dei wafer

    Corea del Sud
  • 2006 HITACHI IS2700E

    2006 HITACHI IS2700E

    • usata

    • Produttore: Hitachi
    • Modello: IS2700SE

    Dimensione del wafer: 12" | Dettagli: Ispezione con fascio E | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: Ispezione del fascio E HITACHI IS2700SE

    Corea del Sud
  • 2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    • usata

    • Produttore: Nanometrics

    Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione di maschere e wafer | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2006 Micro-Vu Vertex 420

    2006 Micro-Vu Vertex 420

    • usata

    • Produttore: Micro-Vu

    Dimensione del wafer: N/A | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • CAMECA EX300

    CAMECA EX300

    • usata

    • Produttore: Cameca

    Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • Hitachi S4700II

    Hitachi S4700II

    • usata

    • Produttore: Hitachi
    • Modello: S 4700

    Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2011 RUDOLPH S3000A

    2011 RUDOLPH S3000A

    • usata

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: S3000A

    Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato

    Corea del Sud
  • 2011 RUDOLPH S3000A

    2011 RUDOLPH S3000A

    • usata

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: S3000A

    Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato

    Corea del Sud
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