1992 DISCO DFG-82IF
- Produttore: Disco
- Modello: DFG-82IF8
Processo: Smerigliatrice rotativa per superfici
Anseong, Corea del Sud2009 DNS SU-3000
- Produttore: Dainippon Screen
- Modello: SU-3000
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Più pulito | Spedizione: EXW
Anseong-si, Corea del SudMPD MSP-2300XPI
- Produttore: MPD
Dimensione del wafer: 12" | Dettagli: Deposizione di wafer | Spedizione: EXW
Anseong, Corea del Sud2000 DNS SS-W80AR
- Produttore: Dainippon Screen
- Modello: SS-80
Dimensione del wafer: 8 " | Spedizione: EXW
Corea del Sud2007 DNS SS-3000-AR
- Produttore: Dainippon Screen
- Modello: SS-3000
Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW
Corea del Sud2007 DNS SS-3000-AR
- Produttore: Dainippon Screen
- Modello: SS-3000
Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW
Corea del Sud2007 DNS SS-3000-AR
- Produttore: Dainippon Screen
- Modello: SS-3000
Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW
Corea del Sud2006 DNS SS-3000-AR
- Produttore: Dainippon Screen
- Modello: SS-3000
Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW
Corea del SudDNS SU-3000
- Produttore: Dainippon Screen
- Modello: SU-3000
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Più pulito | Tipo: MP | Spedizione: EXW`
Corea del SudSUNGJIN SEMITECH ULTRA SONIC
- Produttore: SUNGJIN SEMITECH
Processo: Pulitore per cialde Auto | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud1996 NICOLET MAGNA 410 FT-IR
- Produttore: Nicolet
- Modello: MAGNA 410 FT-IR
Processo: Spettrometro | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del SudMARTEQ VERTEQ SUPERCLEAN 1600
- Produttore: Verteq
- Modello: SUPERCLEAN 1600
Processo: CENTRIFUGA ASCIUGATRICE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del SudCARLZEISS AXIOTON
- Produttore: CARLZEISS
Processo: MICROSCOPIO DI ISPEZIONE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del SudLEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Produttore: Leica
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del SudLEICA AG KENSINGTON 300901
- Produttore: Leica
- Modello: KENSINGTON 300901
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud