Usata Test E Misurazione

PERCEPTICS IP940 PWB 082291 REV 03 W/ PWB 040195 B1 CIRCUIT BOARD MODULE (U5.3)

• Produttore: PERCEPTICS

Mpn: PWB 082291 REV 03 | Tipo di attrezzatura: MODULO SCHEDA ELETTRONICA

PIATTO DI CONTROLLO SUMITOMO JA761146KC JA761784DX (R6S6.4)

• Produttore: Sumitomo

Mpn: JA761146KC | Paese/regione di produzione: Giappone | Tipo di attrezzatura: SCHEDA DI CONTROLLO

SCHEDA DI INTERFACCIA HITACHI 1AA30017 (BR6.3)

• Produttore: Hitachi

Mpn: 1AA30017 | Tipo di attrezzatura: SCHEDA DI INTERFACCIA

TEL TOKYO ELECTRON 3381-000079-12 3308-000079-12 P-12XL PCB STACK LIGHT BOARD

• Produttore: Tokyo Electron - TEL
• Modello: P-12XL

Tipo di attrezzatura/componente: P-12XL PCB STACK LIGHT BOARD | Mpn: 3381-000079-12

Generatore RF Trumpf TruPlasma Coax 3010 da 10 kW 1790270 e regolatore di potenza 1697081

• Produttore: Trumpf

Mpn: 1697081 | Tipo di attrezzatura: GENITORE RF

2003 Nikon, OPTIPHOT-300D, Microscopio da ispezione

• Produttore: Nikon
• Modello: Optiphot 300

Numero di serie.: 625331 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Microscopio di ispezione | Attrezzatura: Microscopio di ispezione | Descrizione: Stadio 14x10, wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

2003 NIKON, OPTIPHOT-300D, Microscopio di ispezione

• Produttore: Nikon
• Modello: Optiphot 300

Numero di serie.: 625331 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Microscopio di ispezione | Attrezzatura: Microscopio di ispezione | Descrizione: Stadio 14x10, wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

1999 PLASMOS, SD2002, ELLISSOMETRO

• Produttore: Plasmos

Numero di serie.: 5094.06.94 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: ELLIPSOMETRO | Attrezzatura: ELLIPSOMETRO | Descrizione: Wafer 300 mm | Monitor video: 9M200A | Elettrofisica: Sistema di messa a fuoco au...

MKS, P99A-28229, Regolatore di pressione

• Produttore: MKS

Numero di serie.: 10XX09 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Controllore di pressione | Attrezzatura: Controllore di pressione | Descrizione: Gas N2, gamma 1000SCCM, 1000Torr

2012 KOH YOUNG, KY-7100, macchina automatica per l'ispezione ottica 3D

• Produttore: Koh Young
• Modello: KY7100

Numero di serie.: AOI-S001 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Macchina di ispezione ottica automatica 3D | Attrezzatura: Macchina di ispezione ottica automatica 3D | Descrizione: 208VAC, 1Fase, 50/60Hz

2010 AIT, AVIS-5000N, Sistema di ispezione di wafer a LED

• Produttore: AIT

Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Sistema di ispezione dei wafer a LED | Attrezzatura: Sistema di ispezione dei wafer a LED | Descrizione: Wafer da 2~6"

2007 KOCUSAI VR120_SD

• Produttore: KOCUSAI

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Sistema di test di resistività | Spedizione: EXW

1996 Nanometrics Nanospec8000

• Produttore: Nanometrics
• Modello: Nanospec

Processo: MET | Spedizione: EXW

2011 HMI eScan 400

• Produttore: HMI
• Modello: Escan 400

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione dei difetti della trave E | Spedizione: EXW

Chint Power Smart COMBOX - CHINT POWER