Usata Semiconduttori in Corea del Sud

2010 AIT, CMT-SR5000, Sonda a 4 punti

• Produttore: AIT

Numero di serie.: SR201009A026C | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Sonda a 4 punti | Attrezzatura: Sonda a 4 punti | Descrizione: Wafer 300 mm

Robotechnik, OPTIcoat ST22+, Spin Coater

• Produttore: Robotechnik

Numero di serie.: 2004/3124 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Spin Coater

2021 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

• Produttore: KLA-Tencor

Numero di serie.: AMS101 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

Hitachi, S-3000H, SEM (microscopio elettronico a scansione)

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-3000H

Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: SEM (microscopio elettronico a scansione) | Attrezzatura: SEM (microscopio elettronico a scansione)

2012 DISCO, DFL7160, Scriba laser

• Produttore: Disco
• Modello: DFL7160

Numero di serie.: KA1333 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Incisore laser | Attrezzatura: Incisore laser | Descrizione: N/A

1999 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

• Produttore: KLA-Tencor

Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

2004 ADE, Ultrascan9300, Sorter per wafer

• Produttore: ADE

Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Sorter per wafer | Attrezzatura: Sorter per wafer | Descrizione: Wafer200mm

2014 Echo Giken, PCS-FCS, Wafer 450 mm

• Produttore: Echo Giken

Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: PCS-FCS (Sistema di controllo di processo-Sistema di controllo di fabbrica) | Descrizione: Wafer 450 mm

Lam Research, Rainbow4420, Pulitore al plasma

• Produttore: Lam Research - Novellus
• Modello: RAINBOW 4420

Numero di serie.: 1012001 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Pulitore al plasma | Attrezzatura: Pulitore al plasma | Descrizione: N/A

KLA TENCOR, P-10, Profilometro di superficie (Windows DOS)

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-10

Numero di serie.: 03970318 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Profilometro di superficie (Windows DOS) | Attrezzatura: Profilometro di superficie | Descrizione: Windows DOS

2006 ADE, Ultrascan9300, Sorter per wafer

• Produttore: ADE

Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Sorter per wafer | Descrizione: Wafer 200 mm

2014 Trasferimento di wafer, wafer 300 mm

Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Trasferimento dei wafer | Attrezzatura: Trasferimento dei wafer | Descrizione: Wafer 300 mm

1999 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

• Produttore: KLA-Tencor

Numero di serie.: AMS069 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

2013 KLA, PHXDF5.0, Wafersight3

• Produttore: KLA-Tencor

Numero di serie.: 48130711333 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Wafersight3 | Attrezzatura: Wafersight3 | Descrizione: Wafer 450 mm

VEECO, DEKTAK6M, Profilatore di superficie

• Produttore: Veeco - Sloan
• Modello: Dektak

Numero di serie.: 34542 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Profilatore di superficie | Attrezzatura: Profilatore di superficie | Descrizione: Lunghezza di scansione 50㎛~30 mm, diametro del wafer 150 mm