Usata FIB/SEM (FEI, Nova 200 NanoLab) in Suwon, Gyeonggi, Corea del Sud
Usata
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Scheda Tecnica
- Condizione
- usata
- Quantità
- 1
- Dettaglio dell'attrezzatura
- SEM/FIB
- Categoria
- Semiconduttori in Corea del Sud
- Sottocategoria
- Macchine
- Sottocategoria 2
- Semiconduttore
- Listing ID
- 109974958
Descrizione
DualBeamTM-SEM/FIB per
prototipazione, lavorazione,
caratterizzazione e analisi su scala nanometrica
di strutture inferiori a 100 nm
FIB/SEM (FEI, Nova 200 NanoLab)
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