RODOLPH Meta Pulse 300
- Produttore: RODOLPH
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW`
Corea del Sud
J.A Woollam VUV-VASE
- Produttore: J.A Woollam
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ellissometro | Spedizione: EXW`
Corea del Sud
2001 HITACHI S4700-I
- Produttore: Hitachi
- Modello: S 4700
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Microscopio elettronico a scansione | Spedizione: EXW
Corea del Sud
RUDOLPH S3000A
- Produttore: Rudolph
- Modello: S3000A
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato | Spedizione: EXW
Corea del Sud
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RUDOLPH FE-3
- Produttore: Rudolph
Dimensione del wafer: 8" | Processo: Ellissometro a fuoco | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2008 RAYTEX RXW-800
- Produttore: RAYTEX
Dimensione del wafer: 8" | Processo: SCANSIONE DEL BORDO | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2010 RUDOLPH WS3840
- Produttore: Rudolph
- Modello: WS3840
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Metrologia 3d delle protuberanze | Spedizione: EXW`
Corea del Sud
JEOL JWS-7515
- Produttore: Jeol
- Modello: JWS-7515
Dettagli: Ispezione dei wafer | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: JEOL JWS-7515 Ispezione dei wafer
Corea del Sud
2006 HITACHI IS2700E
- Produttore: Hitachi
- Modello: IS2700SE
Dimensione del wafer: 12" | Dettagli: Ispezione con fascio E | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: HITACHI IS2700SE E beam inspection
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2011 RUDOLPH S3000A
- Produttore: Rudolph
- Modello: S3000A
Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato
Corea del Sud
2011 RUDOLPH S3000A
- Produttore: Rudolph
- Modello: S3000A
Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato
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