Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori) in Corea del Sud

KLA_TENCOR P-12

• usata

• Produttore: KLA_TENCOR

Dimensione del wafer: 6",8" | Processo: PROFILATORE DISCO | Spedizione: EXW

2010 BRUKER JVX6200

• usata

• Produttore: Bruker

Processo: Metro | Spedizione: EXW

RUDOLPH FE-4D

• usata

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: Ellissometro a fuoco | Spedizione: EXW

2008 LASERTEC BGM 300

• usata

• Produttore: Lasertec

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: SISTEMA DI ANALISI E VISUALIZZAZIONE DELLA SUPERFICIE DEL WAFER | Spedizione: EXW

2003 RUDOLPH MP200

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP200

Dimensione del wafer: 8

2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

• usata

• Produttore: J.A.WOOLLAM

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: ELLIPSOMETRO | Spedizione: EXW

JORDANVALLEY JVX6200

• usata

• Produttore: JORDANVALLEY

Dimensione del wafer: 12"

2000 RUDOLPH MP200

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP200

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• usata

• Produttore: RODOLPH

Dimensione del wafer: 8 | 3 dimensioni del wafer: 8 " | Spedizione: EXW

2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

• usata

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• usata

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: MISURAZIONE DELLO SPESSORE DEL FILM | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER-ULTRA

• usata

• Produttore: Nanometrics

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Sovrapposizione | Spedizione: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 200

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MISURAZIONE DELLO SPESSORE DEL FILM | Spedizione: EXW

JEOL JWS-7500E

• usata

• Produttore: Jeol
• Modello: JWS-7500E

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: SISTEMA DI ISPEZIONE DEI WAFER | Spedizione: EXW

2013 ATI OAK-1

• usata

• Produttore: ATI

Spedizione: EXW