Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori) in Corea del Sud

2000 KLA 2139

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: 2139

Dimensione del wafer: 8" | Processo: MET | Spedizione: EXW

LASER&PHYSICS SISCAN-2-M7325

• Produttore: LASER&PHYSICS

Processo: Macchina per il test della maschera | Dimensione del wafer: N/A | Spedizione: EXW

2002 MDC SIGNATION

• Produttore: MDC

Dimensione del wafer: 8" | Processo: MET | Spedizione: EXW

2000 KLA UV-1080

• Produttore: KLA-Tencor

Dimensione del wafer: 6", 8" | Processo: MET | Spedizione: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 REV.2 | Spedizione: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 | Spedizione: EXW

METROLOGY Q230

• Produttore: METROLOGY

Dimensione del wafer: 8"

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Produttore: Nanometrics

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

METROLOGY P2

• Produttore: METROLOGY

AMAT SEMVision

• Produttore: Amat
• Modello: Semvision

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

KLA P20H

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P20H

Dimensione del wafer: 3

HITACHI FB 2100

• Produttore: Hitachi

KLA-TENCOR P 12

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-12

1996 BROOKS METARA 7200

• Produttore: Brooks

Dimensione del wafer: 8" | Processo: SOPRAVVIVENZA | Spedizione: EXW

1990 KLA SFS7200

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: SFS7200

Dimensione del wafer: 8" | Processo: Metrologia | Spedizione: EXW