Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori)

2002 MDC SIGNATION

• Produttore: MDC

Dimensione del wafer: 8" | Processo: MET | Spedizione: EXW

2000 KLA UV-1080

• Produttore: KLA-Tencor

Dimensione del wafer: 6", 8" | Processo: MET | Spedizione: EXW

2011 HITACHI NB-5000

• Produttore: Hitachi
• Modello: NB5000

Dimensione del wafer: N/A | Processo: FIB Sem | Spedizione: EXW

HITACHI S5500

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5500

Dimensione del wafer: N/A | Processo: FE Sem | Spedizione: EXW

2006 HITACHI HD2300A

• Produttore: Hitachi
• Modello: HD-2300A

Dimensione del wafer: N/A | Processo: Microscopio elettronico a trasmissione a scansione (STEM) | Spedizione: EXW

Scala HEIDENHAIN LIDA 325 ML 1200

• Produttore: Heidenhain

BALLUFF BOS 26K-PA-1LHC-S4-C sensor

• Produttore: Balluff

Scala FAGOR COVP-1645

• Produttore: Fagor

KLA_TENCOR CI T1X0

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 REV.2 | Spedizione: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 | Spedizione: EXW

METROLOGY Q230

• Produttore: METROLOGY

Dimensione del wafer: 8"

METROLOGY P2

• Produttore: METROLOGY

AMAT SEMVision

• Produttore: Amat
• Modello: Semvision

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

KLA P20H

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P20H

Dimensione del wafer: 3

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Produttore: Nanometrics

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW