Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori) in Corea del Sud

2008 LASERTEC BGM 300

• usata

• Produttore: Lasertec

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: SISTEMA DI ANALISI E VISUALIZZAZIONE DELLA SUPERFICIE DEL WAFER | Spedizione: EXW

2003 RUDOLPH MP200

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP200

Dimensione del wafer: 8

2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

• usata

• Produttore: J.A.WOOLLAM

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: ELLIPSOMETRO | Spedizione: EXW

RUDOLPH Meta Pulse

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• usata

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

KLA TENCOR P-15

• usata

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-15