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Lumentum - Surplus Semiconductor Fabrication Tools and Optical Communication Testers from Takao Japan Facility

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Usata Semiconduttori in Corea del Sud

  • RUDOLPH WV320 MACRO

    RUDOLPH WV320 MACRO

    • Produttore: Rudolph

    Dimensione del wafer: 8 " | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • RUDOLPH S3000A

    RUDOLPH S3000A

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: S3000A

    Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • RUDOLPH Meta Pulse 300

    RUDOLPH Meta Pulse 300

    • Produttore: Rudolph

    Dimensione del wafer: 12" | Processo: MISURARE LO SPESSORE DEL METALLO | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

    KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

    • Produttore: KLA_TENCOR

    Processo: MISURAZIONE DELLO SPESSORE DEL FILM | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • SUNGJIN SEMITECH ULTRA SONIC

    SUNGJIN SEMITECH ULTRA SONIC

    • Produttore: SUNGJIN SEMITECH

    Processo: Pulitore per cialde Auto | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 1996 NICOLET MAGNA 410 FT-IR

    1996 NICOLET MAGNA 410 FT-IR

    • Produttore: Nicolet
    • Modello: MAGNA 410 FT-IR

    Processo: Spettrometro | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • MARTEQ VERTEQ SUPERCLEAN 1600

    MARTEQ VERTEQ SUPERCLEAN 1600

    • Produttore: Verteq
    • Modello: SUPERCLEAN 1600

    Processo: CENTRIFUGA ASCIUGATRICE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • CARLZEISS AXIOTON

    CARLZEISS AXIOTON

    • Produttore: CARLZEISS

    Processo: MICROSCOPIO DI ISPEZIONE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

    LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

    • Produttore: Leica

    Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • LEICA AG KENSINGTON 300901

    LEICA AG KENSINGTON 300901

    • Produttore: Leica
    • Modello: KENSINGTON 300901

    Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • LEICA AG KENSINGTON 300901

    LEICA AG KENSINGTON 300901

    • Produttore: Leica
    • Modello: KENSINGTON 300901

    Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E

    APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E

    • Produttore: Jeol
    • Modello: JWS-7500E

    Dimensione del wafer: 8 " | Processo: Sistema di ispezione dei wafer | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • JEOL JWS-7500E

    JEOL JWS-7500E

    • Produttore: Jeol
    • Modello: JWS-7500E

    Dimensione del wafer: 8 " | Processo: SISTEMA DI ISPEZIONE DEI WAFER | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • CARLZEISS AXIOTON

    CARLZEISS AXIOTON

    • Produttore: CARLZEISS

    Processo: MICROSCOPIO DI ISPEZIONE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • JORDANVALLEY JVX6200

    JORDANVALLEY JVX6200

    • Produttore: JORDANVALLEY

    Dimensione del wafer: 12"

    Corea del Sud
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