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Corea del Sud
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2006 HITACHI HD2300A
- Produttore: Hitachi
- Modello: HD-2300A
Dimensione del wafer: N/A | Processo: Microscopio elettronico a trasmissione a scansione (STEM) | Spedizione: EXW
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2011 HITACHI NB-5000
- Produttore: Hitachi
- Modello: NB5000
Dimensione del wafer: N/A | Processo: FIB Sem | Spedizione: EXW
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HITACHI S5500
- Produttore: Hitachi
- Modello: S-5500
Dimensione del wafer: N/A | Processo: FE Sem | Spedizione: EXW
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2006 TEL ALPHA 303I
- Produttore: Tokyo Electron - TEL
- Modello: Alpha-303i
Dimensione del wafer: 12" | Processo: MOBILE | Spedizione: EXW
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2006 TEL A303I
- Produttore: Tokyo Electron - TEL
- Modello: A303I
Dimensione del wafer: 12" | Processo: MOBILE | Spedizione: EXW
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2007 KOCUSAI VR120_SD
- Produttore: KOCUSAI
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Sistema di test di resistività | Spedizione: EXW
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OLYMPUS MX80
- Produttore: Olympus
- Modello: MX80
Dimensione del wafer: 8", 12" | Processo: Ambito di applicazione | Spedizione: EXW
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1995 DNS SK 80BW AVPE
- Produttore: Dainippon Screen
- Modello: SK-80BW-AVPE
Dimensione del wafer: 8 " | Spedizione: EXW
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Nanometrics Caliper_MOSAIC
- Produttore: Nanometrics
- Modello: CALIPERMOSAIC
Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: Calibro Nanometrics_MOSAICO
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E-TECH SOLUTION INSPECTION SCOPE
- Produttore: Kannegiesser-Etech
Processo: AMBITO DI ISPEZIONE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
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1998 NICOLET MAGNA 560 FT-IR
- Produttore: Nicolet
- Modello: MAGNA 560 FT-IR
Processo: Spettrometro | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
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LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Produttore: Leica
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
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