Usata etc in Corea del Sud

CARLZEISS AXIOTON

• usata

• Produttore: CARLZEISS

Processo: MICROSCOPIO DI ISPEZIONE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• usata

• Produttore: Leica

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• usata

• Produttore: Leica
• Modello: KENSINGTON 300901

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• usata

• Produttore: Leica
• Modello: KENSINGTON 300901

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E

• usata

• Produttore: Jeol
• Modello: JWS-7500E

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: Sistema di ispezione dei wafer | Spedizione: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• usata

• Produttore: CARLZEISS

Processo: MICROSCOPIO DI ISPEZIONE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

EXPEDIUS

• usata

Dimensione del wafer: 12" | Processo: CLN DUMMY | Spedizione: EXW

2005 AXCELIS ES3

• usata

• Produttore: Axcelis
• Modello: ES3

Dimensione del wafer: 12"

NIDEC IM 15

• usata

• Produttore: Nidec-Shimpo

Processo: Ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

LUMONICS SUPERCLEAN

• usata

• Produttore: LUMONICS

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: Sistema di marcatura laser | Spedizione: EXW`

IWATANI LNS-1

• usata

• Produttore: IWATANI

Dettagli: Fornitore di azoto liquido | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: Fornitore di azoto liquido IWATANI LNS-1

BACKEND P&P2512

• usata

• Produttore: BACKEND

Nanometrics Caliper_MOSAIC

• usata

• Produttore: Nanometrics
• Modello: CALIPERMOSAIC

Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: Calibro Nanometrics_MOSAICO

2012 AXCELIS INTEGRA

• usata

• Produttore: Axcelis
• Modello: Integra

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Sistema ES plasma dry strip | Spedizione: EXW`

E-TECH SOLUTION INSPECTION SCOPE

• usata

• Produttore: Kannegiesser-Etech

Processo: AMBITO DI ISPEZIONE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW