Building Filters
JEIO TECH, HX-03, REFRIGERATORE
- Produttore: Jeio Tech
Numero di serie.: R010209 | Quantità: 2 | Dettaglio dell'attrezzatura: FREDDO | Attrezzatura: FREDDO | Descrizione: Intervallo di temperatura 3~30℃, 10L, 360x465x575mm
Suwon, Corea del Sud
Edwards, IH-600, Modulo di controllo della pompa
- Produttore: Edwards
- Modello: IH600
Numero di serie.: 46242021 | Quantità: 2 | Dettaglio dell'attrezzatura: Modulo di controllo della pompa | Attrezzatura: Modulo di controllo della pompa | Descrizione: Velocità 353CFM, Pressione 1mTorr, Capacità o...
Suwon, Corea del Sud
TDK-Lambda, NV-350, alimentazione modulare
- Produttore: TDK - Lambda
Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Alimentazione modulare | Attrezzatura: Alimentazione modulare | Descrizione: N/A
Suwon, Corea del Sud
Changshin Science, MSH-1, piastra di cottura
- Produttore: Changshin Science
Numero di serie.: N/A | Quantità: 2 | Dettaglio dell'attrezzatura: Piastra riscaldante | Attrezzatura: Piastra riscaldante | Descrizione: 200x200x120mm, velocità 60~2000rpm, temperatura fino a 300℃
Suwon, Corea del Sud
K&K, 6,0", piastra di riscaldamento
- Produttore: K&K
Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: PIATTO CALDO | Attrezzatura: PIATTO CALDO | Descrizione: 6 pollici
Suwon, Corea del Sud
Corea del Sud
TEL FORMULA
- Produttore: Tokyo Electron - TEL
- Modello: Formula
Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW
Corea del Sud
Corea del Sud
Corea del Sud
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Produttore: Leica
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud
HP 4145B
- Produttore: HP
- Modello: 4145B
Processo: PARAMETRO DEL SEMICONDUTTORE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Produttore: Leica
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Produttore: Leica
- Modello: KENSINGTON 300901
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Produttore: Leica
- Modello: KENSINGTON 300901
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud
KEITHLEY KEITHLEY 236
- Produttore: Keithley
- Modello: 236
Dettagli: Unità di misura della sorgente | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: KEITHLEY 236 Unità di misura della sorgente
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