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2011 HITACHI NB-5000
- Produttore: Hitachi
- Modello: NB5000
Dimensione del wafer: N/A | Processo: FIB Sem | Spedizione: EXW
Corea del Sud
HITACHI S5500
- Produttore: Hitachi
- Modello: S-5500
Dimensione del wafer: N/A | Processo: FE Sem | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2006 TEL ALPHA 303I
- Produttore: Tokyo Electron - TEL
- Modello: Alpha-303i
Dimensione del wafer: 12" | Processo: MOBILE | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2006 TEL A303I
- Produttore: Tokyo Electron - TEL
- Modello: A303I
Dimensione del wafer: 12" | Processo: MOBILE | Spedizione: EXW
Corea del Sud
Corea del Sud
Corea del Sud
2006 HITACHI HD2300A
- Produttore: Hitachi
- Modello: HD-2300A
Dimensione del wafer: N/A | Processo: Microscopio elettronico a trasmissione a scansione (STEM) | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2007 KOCUSAI VR120_SD
- Produttore: KOCUSAI
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Sistema di test di resistività | Spedizione: EXW
Corea del Sud
Corea del Sud
TEL FORMULA
- Produttore: Tokyo Electron - TEL
- Modello: Formula
Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW
Corea del Sud
Corea del Sud
Corea del Sud
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Produttore: Leica
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud
HP 4145B
- Produttore: HP
- Modello: 4145B
Processo: PARAMETRO DEL SEMICONDUTTORE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Produttore: Leica
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud