Usata metrologie

KPDE005HAn Tecnosens

• Produttore: Tecnosens

KLA-Tencor Thermawave 14-018236 REV D SCHEDA DI BREAKOUT QUADRO (R3S6,5)

• Produttore: KLA-Tencor

Tipo di attrezzatura/componente: TELAIO DELLA SCHEDA DI BREAKOUT | Mpn: 14-018236 REV. D

Daphne Impianti Impianti Speciali-sala metrologica

• Produttore: Daphne Impianti

2009 HITACHI RS4000T

• Produttore: Hitachi
• Modello: RS-4000

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

2002 MDC SIGNATION

• Produttore: MDC

Dimensione del wafer: 8" | Processo: MET | Spedizione: EXW

2000 KLA 2139

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: 2139

Dimensione del wafer: 8" | Processo: MET | Spedizione: EXW

2000 KLA UV-1080

• Produttore: KLA-Tencor

Dimensione del wafer: 6", 8" | Processo: MET | Spedizione: EXW

1999 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

• Produttore: KLA-Tencor

Numero di serie.: AMS069 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

2013 KLA, PHXDF5.0, Wafersight3

• Produttore: KLA-Tencor

Numero di serie.: 48130711333 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Wafersight3 | Attrezzatura: Wafersight3 | Descrizione: Wafer 450 mm

KLA TENCOR, P-15, Profilatore a scansione lunga

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-15

Numero di serie.: 905001693 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Profilatore a scansione lunga | Attrezzatura: Profilatore a scansione lunga | Descrizione: N/A

KLA TENCOR, P-15, Surface Profiler (Windows XP Professional)

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-15

Numero di serie.: 0803105587 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Surface Profiler (Windows XP Professional) | Attrezzatura: Profilatore di superficie | Descrizione: Windows XP Professional

2010 KLA TENCOR, Alpha Step IQ, ASIQ3

• Produttore: KLA-Tencor

Numero di serie.: 7083372 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Alfa Step IQ | Attrezzatura: Alfa Step IQ | Descrizione: Windows 7 pro

2021 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

• Produttore: KLA-Tencor

Numero di serie.: AMS101 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

Hitachi, S-3000H, SEM (microscopio elettronico a scansione)

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-3000H

Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: SEM (Microscopio elettronico a scansione) | Attrezzatura: SEM (microscopio elettronico a scansione)

1999 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

• Produttore: KLA-Tencor

Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um