Usata microscope in Corea del Sud

1996 HITACHI S-5000

• usata

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

Dimensione del wafer: 6", 8" | Dettagli: FE SEM | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: HITACHI S-5000 FE SEM | Disponibile per la vendita q'ty: 7

HITACHI S 5000

• usata

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

HITACHI S-5000

• usata

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

Dimensione del wafer: 6",8" | Processo: FE SEM | Spedizione: EXW

HITACHI S-5000

• usata

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

Dimensione del wafer: 6",8" | Processo: FE SEM | Spedizione: EXW

HITACHI S-5000

• usata

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

Dimensione del wafer: 6",8" | Processo: FE SEM | Spedizione: EXW

HITACHI S-5000

• usata

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

Dimensione del wafer: 6",8" | Processo: FE SEM | Spedizione: EXW

HITACHI S 5000

• usata

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

HITACHI S 5000

• usata

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

2011 NIKON, VMR-3020, Microscopio di misura

• usata

• Produttore: Nikon
• Modello: Nexiv VMR-3020

Numero di serie.: 1303969 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Microscopio di misura | Attrezzatura: Microscopio di misura | Descrizione: Corsa 300x200x150mm, lettura minima 0.1㎛

2003 Nikon, OPTIPHOT-300D, Microscopio da ispezione

• usata

• Produttore: Nikon
• Modello: Optiphot 300

Numero di serie.: 625331 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Microscopio di ispezione | Attrezzatura: Microscopio di ispezione | Descrizione: Stadio 14x10, wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

2003 NIKON, OPTIPHOT-300D, Microscopio di ispezione

• usata

• Produttore: Nikon
• Modello: Optiphot 300

Numero di serie.: 625331 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Microscopio di ispezione | Attrezzatura: Microscopio di ispezione | Descrizione: Stadio 14x10, wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

1999 PLASMOS, SD2002, ELLISSOMETRO

• usata

• Produttore: Plasmos

Numero di serie.: 5094.06.94 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: ELLIPSOMETRO | Attrezzatura: ELLIPSOMETRO | Descrizione: Wafer 300 mm | Monitor video: 9M200A | Elettrofisica: Sistema di messa a fuoco au...

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• usata

• Produttore: Leica

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• usata

• Produttore: Leica

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• usata

• Produttore: Leica

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW