Building Filters
2005 IWATSU SS7840
- Produttore: IWATSU
Processo: Oscilloscopio | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Los Angeles, California
2004 TEKTRONIX TDS 744A
- Produttore: Tektronix
- Modello: TDS744A
- Larghezza di banda dell'oscilloscopio: 400 MHz
- Numero di canali: 4 сhannels
Processo: OSCILLOSCOPIO DIGITALIZZANTE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Los Angeles, California
Los Angeles, California
JEOL JSM-6340F
- Produttore: Jeol
- Modello: JSM
Processo: FE SEM | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Los Angeles, California
NIDEC IM800
- Produttore: Nidec-Shimpo
- Modello: IM800
Processo: Ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Los Angeles, California
2002 LEICA REICHERT POLYVAR SC
- Produttore: Leica
- Modello: REICHERT POLYVAR SC
Dimensione del wafer: 8",12" | Processo: MICROSCOPIO PER L'ISPEZIONE DEI WAFER | Spedizione: EXW
Los Angeles, California
2005 Novellus C3 Speed XT
- Produttore: Lam Research - Novellus
Dimensione del wafer: 12" | Processo: CVD | Camera: 3C/H
Georgia, USA
2008 AMAT ENABLER
- Produttore: Amat
- Modello: Centura
Dimensione del wafer: 12" | Processo: OSSIDO | Camera: 3C/H
Massachusetts, USA
NIKON SMZ-U ZOOM
- Produttore: Nikon
- Modello: SMZ
Processo: MICRO SCOPE | Dimensione del wafer: 8" | Spedizione: EXW
Los Angeles, California
2004 Novellus C3 Speed XT
- Produttore: Lam Research - Novellus
Dimensione del wafer: 12" | Processo: CVD | Camera: 3C/H
Georgia, USA
Los Angeles, California
2004 Novellus C3 Speed XT
- Produttore: Lam Research - Novellus
Dimensione del wafer: 12" | Processo: CVD | Camera: 3C/H
Georgia, USA
2008 AMAT ENABLER
- Produttore: Amat
- Modello: Centura
Dimensione del wafer: 12" | Processo: OSSIDO | Camera: 4C/H
Massachusetts, USA
2008 AMAT ENABLER
- Produttore: Amat
- Modello: Centura
Dimensione del wafer: 12" | Processo: OSSIDO | Camera: 3C/H
Massachusetts, USA
2008 AMAT ENABLER
- Produttore: Amat
- Modello: Centura
Dimensione del wafer: 12" | Processo: OSSIDO | Camera: 3C/H
Massachusetts, USA