LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
usata
- Produttore: Leica
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del SudHP 4145B
usata
- Produttore: HP
- Modello: 4145B
Processo: PARAMETRO DEL SEMICONDUTTORE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del SudLEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
usata
- Produttore: Leica
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del SudLEICA AG KENSINGTON 300901
usata
- Produttore: Leica
- Modello: KENSINGTON 300901
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del SudLEICA AG KENSINGTON 300901
usata
- Produttore: Leica
- Modello: KENSINGTON 300901
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del SudWONIK IPS MAHA HP
usata
- Produttore: WONIK IPS
Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: WONIK IPS MAHA HP
Corea del Sud- Corea del Sud
- Corea del Sud
2006 SIGMAMELTEC SFG3000
usata
- Produttore: SIGMAMELTEC
Dimensione del wafer: 12" | Processo: MASCHERA FOTOGRAFICA | Spedizione: EXW
Corea del Sud2000 DNS SS-W80AR
usata
- Produttore: Dainippon Screen
- Modello: SS-80
Dimensione del wafer: 8 " | Spedizione: EXW
Corea del Sud1996 NICOLET MAGNA 410 FT-IR
usata
- Produttore: Nicolet
- Modello: MAGNA 410 FT-IR
Processo: Spettrometro | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del SudMARTEQ VERTEQ SUPERCLEAN 1600
usata
- Produttore: Verteq
- Modello: SUPERCLEAN 1600
Processo: CENTRIFUGA ASCIUGATRICE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del SudCARLZEISS AXIOTON
usata
- Produttore: CARLZEISS
Processo: MICROSCOPIO DI ISPEZIONE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del SudLEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
usata
- Produttore: Leica
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del SudLEICA AG KENSINGTON 300901
usata
- Produttore: Leica
- Modello: KENSINGTON 300901
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud