Usata Test E Misurazione in Corea del Sud

1997 KLA AIT

• usata

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: AIT

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

LEICA INM300 Wafer Inspection

• usata

• Produttore: Leica

2004 RUDOLPH AXI-S

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: AXI

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione macro | Spedizione: EXW

NIKON AMI-3500

• usata

• Produttore: Nikon
• Modello: AMI-3500

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

2008 RUDOLPH MP-300XCU

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Spedizione: EXW

2001 RUDOLPH MP-300

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

2005 RUDOLPH AXI_S

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: AXI

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Sistema di ispezione macro | Spedizione: EXW

2004 RUDOLPH AXI_S

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: AXI

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Sistema di ispezione macro | Spedizione: EXW

RUDOLPH AXI935D

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: AXI 935

Dimensione del wafer: 12" | Processo: AVI | Spedizione: EXW`

RUDOLPH AXI-S

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: AXI

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione macro | Spedizione: EXW

2008 RUDOLPH MP1-300XCU

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

2007 RUDOLPH MP300

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: Misurazione dello spessore del film | Spedizione: EXW

NEXTEST MAGNUM PV SCM

• usata

• Produttore: SCM / SCMI

Dimensione del wafer: 8, 12" | Spedizione: EXW

NIKON AMI-3300

• usata

• Produttore: Nikon
• Modello: AMI-3300

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

2006 RUDOLPH MP-300

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW