LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
usata
- Produttore: Leica
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud
HP 4145B
usata
- Produttore: HP
- Modello: 4145B
Processo: PARAMETRO DEL SEMICONDUTTORE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
usata
- Produttore: Leica
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud
LEICA AG KENSINGTON 300901
usata
- Produttore: Leica
- Modello: KENSINGTON 300901
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud
LEICA AG KENSINGTON 300901
usata
- Produttore: Leica
- Modello: KENSINGTON 300901
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud
WONIK IPS MAHA HP
usata
- Produttore: WONIK IPS
Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: WONIK IPS MAHA HP
Corea del Sud
Corea del Sud
Corea del Sud
2006 SIGMAMELTEC SFG3000
usata
- Produttore: SIGMAMELTEC
Dimensione del wafer: 12" | Processo: MASCHERA FOTOGRAFICA | Spedizione: EXW
Corea del Sud
Nanometrics Caliper_MOSAIC
usata
- Produttore: Nanometrics
- Modello: CALIPERMOSAIC
Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: Calibro Nanometrics_MOSAICO
Corea del Sud
E-TECH SOLUTION INSPECTION SCOPE
usata
- Produttore: Kannegiesser-Etech
Processo: AMBITO DI ISPEZIONE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud
Corea del Sud
1998 NICOLET MAGNA 560 FT-IR
usata
- Produttore: Nicolet
- Modello: MAGNA 560 FT-IR
Processo: Spettrometro | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
usata
- Produttore: Leica
Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
Corea del Sud
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