Usata Test E Misurazione in Germania

Rilevatore di perdite D 15420220 Spectron 3000 X per serbatoio Edwards VA

• Produttore: Edwards
• Modello: Spectron

Fascia d'età: Nessuna restrizione di età | Paese di produzione: Germania | Contenuto: 1 pezzo

Analizzatore di parametri per semiconduttori Agilent 4155B

• Produttore: Agilent - Keysight
• Modello: 4155B

Numero dell'oggetto: AA00070289 | Nome dell'oggetto: Analizzatore di parametri per semiconduttori Agilent 4155B | Spedizione: 4-6 settimane

AHF F38-510 divisione di fascio Strahlenteiler Dichromic Mirror HC BS 510 AOI 45 25,2x35,6x1,1mm NUOVO!

Peso di spedizione: 10,00 kg

Sistema Microscopio Nikon OPTIPHOT-2 con Sony CCD-I

• Produttore: Nikon
• Modello: Optiphot 2

Numero dell'oggetto: AA00071916 | Nome dell'oggetto: Sistema Microscopio Nikon OPTIPHOT-2 con Sony CCD-I | Spedizione: 4-6 settimane

Microscopio Nikon Optiphot-2

• Produttore: Nikon
• Modello: Optiphot 2

Numero dell'oggetto: AA00070281 | Nome dell'oggetto: Microscopio Nikon Optiphot-2 | Spedizione: 4-6 settimane

Sopra GES-5 Ellipsometer con Banco Gonio Sopra Lab

• Produttore: Sopra

Numero dell'oggetto: AA00072365 | Nome dell'oggetto: Sopra GES-5 Ellipsometer con Banco Gonio Sopra Lab | Spedizione: 4-6 settimane

Leitz ERGOLUX AMC -LIS

• Produttore: Leitz

2005 F&S BONDTEC (Delvotec) 5610

• Produttore: F&S BONDTEC (Delvotec)

2011 Göpel Electronic OptiCon BasicLine (AOI System)

• Produttore: Göpel Electronic

Ludy Electroplating test system

• Produttore: Ludy

Göpel Electronics Opticon Smartline

• Produttore: Göpel Electronics

2006 Cyberoptics Flex Ultra

• Produttore: Cyberoptics
• Modello: FLEX ULTRA

2014 NanoFocus Usprint 3D Inspection System with Bauman

• Produttore: Baumann

2011 Orbotech Ultra Discovery VM

• Produttore: Orbotech
• Modello: Discovery