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Lumentum - Surplus Semiconductor Fabrication Tools and Optical Communication Testers from Takao Japan Facility

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Usata microscope

  • LEICA INM100

    LEICA INM100

    • usata

    • Produttore: Leica
    • Modello: INM100

    Processo: MANUALE OPERATIVO DEL MICROSCOPIO OTTICO | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Los Angeles, California
  • 2002 LEICA REICHERT POLYVAR SC

    2002 LEICA REICHERT POLYVAR SC

    • usata

    • Produttore: Leica
    • Modello: REICHERT POLYVAR SC

    Dimensione del wafer: 8",12" | Processo: MICROSCOPIO PER L'ISPEZIONE DEI WAFER | Spedizione: EXW

    Los Angeles, California
  • LEICA INM100

    LEICA INM100

    • usata

    • Produttore: Leica
    • Modello: INM100

    Processo: MANUALE OPERATIVO DEL MICROSCOPIO OTTICO | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Los Angeles, California
  • LEICA INM100

    LEICA INM100

    • usata

    • Produttore: Leica
    • Modello: INM100

    Processo: MANUALE OPERATIVO DEL MICROSCOPIO OTTICO | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Los Angeles, California
  • LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

    LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

    • usata

    • Produttore: Leica

    Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

    LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

    • usata

    • Produttore: Leica

    Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

    LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

    • usata

    • Produttore: Leica

    Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • LEICA AG KENSINGTON 300901

    LEICA AG KENSINGTON 300901

    • usata

    • Produttore: Leica
    • Modello: KENSINGTON 300901

    Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • LEICA AG KENSINGTON 300901

    LEICA AG KENSINGTON 300901

    • usata

    • Produttore: Leica
    • Modello: KENSINGTON 300901

    Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • CARLZEISS AXIOTON

    CARLZEISS AXIOTON

    • usata

    • Produttore: CARLZEISS

    Processo: MICROSCOPIO DI ISPEZIONE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • CARLZEISS AXIOTON

    CARLZEISS AXIOTON

    • usata

    • Produttore: CARLZEISS

    Processo: MICROSCOPIO DI ISPEZIONE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

    LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

    • usata

    • Produttore: Leica

    Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • LEICA AG KENSINGTON 300901

    LEICA AG KENSINGTON 300901

    • usata

    • Produttore: Leica
    • Modello: KENSINGTON 300901

    Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • LEICA AG KENSINGTON 300901

    LEICA AG KENSINGTON 300901

    • usata

    • Produttore: Leica
    • Modello: KENSINGTON 300901

    Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud