1991 KLA SFS7200
- Produttore: KLA-Tencor
- Modello: SFS7200
Dimensione del wafer: 8 " | Processo: Metrologia | Spedizione: EXW
Corea del Sud
RUDOLPH WV320
- Produttore: Rudolph
- Modello: WV320
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione macro | Spedizione: EXW`
Corea del Sud
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2003 HITACHI RS4000
- Produttore: Hitachi
- Modello: RS-4000
Dimensione del wafer: 12" | Processo: REVISIONE DEI DIFETTI SEM | Spedizione: EXW
Corea del Sud
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2010 HITACHI IS3200SE
- Produttore: Hitachi
- Modello: IS-3200SE
Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2010 RUDOLPH WS3840
- Produttore: Rudolph
- Modello: WS3840
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Metrologia 3d delle protuberanze | Spedizione: EXW`
Corea del Sud
JEOL JWS-7515
- Produttore: Jeol
- Modello: JWS-7515
Dettagli: Ispezione dei wafer | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: JEOL JWS-7515 Ispezione dei wafer
Corea del Sud
2006 HITACHI IS2700E
- Produttore: Hitachi
- Modello: IS-2700SE
Dimensione del wafer: 12" | Dettagli: Ispezione con fascio E | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: Ispezione del fascio E HITACHI IS2700SE
Corea del Sud
2010 Kobelco SBW-330
- Produttore: Kobelco
- Modello: SBW-330
Dettagli: Test e metrologia dei wafer | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: SBW-330 Test e metrologia dei wafer
Corea del Sud
2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I
- Produttore: Valley
- Modello: JVX6200I
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Metrologia a raggi X (riflettività a raggi X) | Spedizione: EXW
Corea del Sud
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