Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori) in Germania

Hitachi S3000H SEM Scanning Electron Microscope La

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-3000H

Numero dell'oggetto: AA00072011 | Nome dell'oggetto: Hitachi S3000H SEM Scanning Electron Microscope La | Spedizione: 4-6 settimane

Hitachi S4000 Microscope (SEM) Scanning Electron M

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-4000

Numero dell'oggetto: AA00072106 | Nome dell'oggetto: Hitachi S4000 Microscope (SEM) Scanning Electron M | Spedizione: 4-6 settimane

2001 Leica INS 3000

• Produttore: Leica
• Modello: INS 3000