Usata Test E Misurazione

2007 KOCUSAI VR120_SD

• usata

• Produttore: KOCUSAI

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Sistema di test di resistività | Spedizione: EXW

1996 Nanometrics Nanospec8000

• usata

• Produttore: Nanometrics
• Modello: Nanospec

Processo: MET | Spedizione: EXW

2011 HMI eScan 400

• usata

• Produttore: HMI
• Modello: Escan 400

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione dei difetti della trave E | Spedizione: EXW

Chint Power Smart COMBOX - CHINT POWER

• nuova

1997 KLA AIT

• usata

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: AIT

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

2004 KLA Viper 2435XP

• usata

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: Viper 2435

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

2005 RUDOLPH MP-300

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

2004 KLA VIPER 2430

• usata

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: Viper 2430

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

2004 KLA Viper 2435

• usata

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: Viper 2435

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

2008 RUDOLPH MP1-300XCU

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

2007 RUDOLPH MP300

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: Misurazione dello spessore del film | Spedizione: EXW

NEXTEST MAGNUM PV SCM

• usata

• Produttore: SCM / SCMI

Dimensione del wafer: 8, 12" | Spedizione: EXW

NIKON AMI-3300

• usata

• Produttore: Nikon
• Modello: AMI-3300

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

2006 RUDOLPH MP-300

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

2012 RUDOLPH MP3_300A

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP 300

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW