Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori)

2000 RUDOLPH METAPULSE200

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

2004 RUDOLPH METAPULSE200

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

METROLOGY Q230

• usata

• Produttore: METROLOGY

Dimensione del wafer: 8 "

HSEB AXIOSPECT 300

• usata

• Produttore: HSEB
• Modello: AXIOSPECT 300

Spedizione: EXW

METROLOGY P2

• usata

• Produttore: METROLOGY

2014 Lasertec BGM300

• usata

• Produttore: Lasertec

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

AMAT SEMVision

• usata

• Produttore: Amat
• Modello: Semvision

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

2008 RUDOLPH NSK 105

• usata

• Produttore: Rudolph

Spedizione: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• usata

• Produttore: Nanometrics

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

KLA P20H

• usata

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P20H

Dimensione del wafer: 3

2003 Rudolph Metapulse 200X cu

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

HITACHI FB 2100

• usata

• Produttore: Hitachi

2001 Rudolph Metapulse 200X CU

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

2005 Rudolph Metapulse 200

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

2008 Rudolph Metapulse Metapulse II 200X CU

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW