Semiconduttori » Metrologia / Ispezione (semiconduttori) » KLA-Tencor » afs-3220 » Gyeonggi

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Usata KLA-Tencor afs-3220 Metrologia / Ispezione (Semiconduttori) in Gyeonggi, Corea del Sud

  • 2021 KLA, AFS-3220, Misurazione della

    2021 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

    • Produttore: KLA-Tencor

    Numero di serie.: AMS101 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

    Suwon, Corea del Sud
  • 1999 KLA, AFS-3220, Misurazione della

    1999 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

    • Produttore: KLA-Tencor

    Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

    Suwon, Corea del Sud
  • 2003 KLA, AFS-3220, Misurazione della

    2003 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

    • Produttore: KLA-Tencor

    Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

    Suwon, Corea del Sud
  • 2005 KLA, AFS-3220, Misurazione della

    2005 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

    • Produttore: KLA-Tencor

    Numero di serie.: AMS101 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

    Suwon, Corea del Sud
  • 1999 KLA, AFS-3220, Misurazione della

    1999 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

    • Produttore: KLA-Tencor

    Numero di serie.: AMS069 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

    Suwon, Corea del Sud