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Usata Semiconduttori in Corea del Sud

  • 2021 KLA, AFS-3220, Misurazione della

    2021 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

    • Produttore: KLA-Tencor

    Numero di serie.: AMS101 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

    Suwon, Corea del Sud
  • 1999 KLA, AFS-3220, Misurazione della

    1999 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

    • Produttore: KLA-Tencor

    Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

    Suwon, Corea del Sud
  • Lam Research, Rainbow4420, Pulitore al

    Lam Research, Rainbow4420, Pulitore al plasma

    • Produttore: Lam Research - Novellus
    • Modello: RAINBOW 4420

    Numero di serie.: 1012001 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Pulitore al plasma | Attrezzatura: Pulitore al plasma | Descrizione: N/A

    Suwon, Corea del Sud
  • KLA TENCOR, P-10, Profilometro di

    KLA TENCOR, P-10, Profilometro di superficie (Windows DOS)

    • Produttore: KLA-Tencor
    • Modello: P-10

    Numero di serie.: 03970318 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Profilometro di superficie (Windows DOS) | Attrezzatura: Profilometro di superficie | Descrizione: Windows DOS

    Suwon, Corea del Sud
  • 2006 ADE, Ultrascan9300, Sorter per

    2006 ADE, Ultrascan9300, Sorter per wafer

    • Produttore: ADE

    Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Sorter per wafer | Descrizione: Wafer 200 mm

    Suwon, Corea del Sud
  • 1999 KLA, AFS-3220, Misurazione della

    1999 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

    • Produttore: KLA-Tencor

    Numero di serie.: AMS069 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

    Suwon, Corea del Sud
  • 2013 KLA, PHXDF5.0, Wafersight3

    2013 KLA, PHXDF5.0, Wafersight3

    • Produttore: KLA-Tencor

    Numero di serie.: 48130711333 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Wafersight3 | Attrezzatura: Wafersight3 | Descrizione: Wafer 450 mm

    Suwon, Corea del Sud
  • VEECO, DEKTAK6M, Profilatore di superficie

    VEECO, DEKTAK6M, Profilatore di superficie

    • Produttore: Veeco - Sloan
    • Modello: Dektak

    Numero di serie.: 34542 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Profilatore di superficie | Attrezzatura: Profilatore di superficie | Descrizione: Lunghezza di scansione 50㎛~30 mm, diametro del wafer 150 mm

    Suwon, Corea del Sud
  • KLA TENCOR, P-15, Profilatore a

    KLA TENCOR, P-15, Profilatore a scansione lunga

    • Produttore: KLA-Tencor
    • Modello: P-15

    Numero di serie.: 905001693 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Profilatore a scansione lunga | Attrezzatura: Profilatore a scansione lunga | Descrizione: N/A

    Suwon, Corea del Sud
  • KLA TENCOR, P-15, Surface Profiler

    KLA TENCOR, P-15, Surface Profiler (Windows XP Professional)

    • Produttore: KLA-Tencor
    • Modello: P-15

    Numero di serie.: 0803105587 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Surface Profiler (Windows XP Professional) | Attrezzatura: Profilatore di superficie | Descrizione: Windows XP Professional

    Suwon, Corea del Sud
  • 2010 KLA TENCOR, Alpha Step

    2010 KLA TENCOR, Alpha Step IQ, ASIQ3

    • Produttore: KLA-Tencor

    Numero di serie.: 7083372 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Alfa Step IQ | Attrezzatura: Alfa Step IQ | Descrizione: Windows 7 pro

    Suwon, Corea del Sud
  • 2003 KLA, AFS-3220, Misurazione della

    2003 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

    • Produttore: KLA-Tencor

    Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

    Suwon, Corea del Sud
  • 2005 KLA, AFS-3220, Misurazione della

    2005 KLA, AFS-3220, Misurazione della planarità

    • Produttore: KLA-Tencor

    Numero di serie.: AMS101 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Misurazione della planarità | Attrezzatura: Misurazione della planarità | Descrizione: Wafer 300 mm, spessore di scansione: precisione 0,25um

    Suwon, Corea del Sud
  • 2003 KLA, SP3, CONTATORE DI

    2003 KLA, SP3, CONTATORE DI PARTICELLE

    • Produttore: KLA-Tencor
    • Modello: SP3

    Numero di serie.: 45120310476 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: CONTATORE DI PARTICELLE | Attrezzatura: CONTATORE DI PARTICELLE | Descrizione: Wafer 450 mm

    Suwon, Corea del Sud
  • 2014 Veeco, Dektak6M, Alpha Step

    2014 Veeco, Dektak6M, Alpha Step

    • Produttore: Veeco - Sloan
    • Modello: Dektak

    Numero di serie.: 24278 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Passo Alfa | Attrezzatura: Passo Alfa | Descrizione: N/A

    Suwon, Corea del Sud
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