Usata Leica in Corea del Sud

2004 Leica, INM300, Microscopio

• Produttore: Leica

Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Microscopio | Attrezzatura: Microscopio | Descrizione: N/A

2020 LEICA, DM8000M, Microscopio ottico

• Produttore: Leica

Numero di serie.: 493160 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Microscopio ottico | Attrezzatura: Microscopio ottico | Descrizione: Fase di scansione 8x8", corsa 202x202 mm

2011 LEICA, Reicher Polyvar SC 300901, Microscopio

• Produttore: Leica

Numero di serie.: 419007 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Microscopio | Attrezzatura: Microscopio | Descrizione: 5x, 10x, 20x, 40x, 100x Obiettivo

LEICA INM300 Wafer Inspection

• Produttore: Leica

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Produttore: Leica

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Produttore: Leica
• Modello: KENSINGTON 300901

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Produttore: Leica
• Modello: KENSINGTON 300901

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Produttore: Leica
• Modello: KENSINGTON 300901

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Produttore: Leica
• Modello: KENSINGTON 300901

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Produttore: Leica

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Produttore: Leica

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Produttore: Leica

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW