Semiconduttori » Test e misurazione

Building Filters

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Usata Test E Misurazione

2008 RUDOLPH MP1-300XCU
- Produttore: Rudolph
- Modello: MP 300
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2007 RUDOLPH MP300
- Produttore: Rudolph
- Modello: MP 300
Dimensione del wafer: 8 " | Processo: Misurazione dello spessore del film | Spedizione: EXW
Corea del Sud
NEXTEST MAGNUM PV SCM
- Produttore: SCM / SCMI
Dimensione del wafer: 8, 12" | Spedizione: EXW
Corea del Sud
NIKON AMI-3300
- Produttore: Nikon
- Modello: AMI-3300
Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2006 RUDOLPH MP-300
- Produttore: Rudolph
- Modello: MP 300
Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2012 RUDOLPH MP3_300A
- Produttore: Rudolph
- Modello: MP 300
Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW
Corea del Sud
RUDOLPH MP3_300XCU
- Produttore: Rudolph
- Modello: MP 300
Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW
Corea del Sud
SECRON IP 300
- Produttore: SECRON
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Prober | Spedizione: EXW`
Corea del Sud
A&B WOS 2000
- Produttore: A&B
Spedizione: EXW
Corea del Sud
NIKON AMI-3300
- Produttore: Nikon
- Modello: AMI-3300
Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2003 RUDOLPH AXI_S
- Produttore: Rudolph
- Modello: AXI
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione dei difetti | Spedizione: EXW`
Corea del Sud
1996 KARLSUSS PM8
- Produttore: KARLSUSS
Spedizione: EXW
Corea del Sud
2007 RUDOLPH RUDOLPH MP1-300
- Produttore: Rudolph
- Modello: MP 300
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2009 RUDOLPH MP300
- Produttore: Rudolph
- Modello: MP 300
Dimensione del wafer: 8 " | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW
Corea del Sud
1997 KLA AIT
- Produttore: KLA-Tencor
- Modello: AIT
Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW
Corea del Sud