Usata Microscopi in Corea del Sud

2006 PSIA INC, XE-120, microscopio a sonda a scansione

• Produttore: PSIA INC

Numero di serie.: BC77600019 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Microscopio a sonda a scansione | Attrezzatura: Microscopio a sonda a scansione | Descrizione: Campo di scansione 90x90㎛, 230V, 50/60Hz, 5A

2010 Park Systems, XE-150, AFM (microscopio a forza atomica)

• Produttore: Park Systems

Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: AFM (microscopio a forza atomica) | Attrezzatura: AFM (microscopio a forza atomica)

Olympus, LED-56A, ILLUMINAZIONE PER MICROSCOPIO STEREO

• Produttore: Olympus

Numero di serie.: N/A | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: ILLUMINAZIONE PER STEREOMICROSCOPIO | Attrezzatura: ILLUMINAZIONE PER STEREOMICROSCOPIO | Descrizione: 12 V CC

HITACHI S 5000

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

HITACHI S 5000

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

HITACHI S 5000

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

HITACHI S 5000

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

HITACHI S 5000

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-5000

JEOL JSM-6700F

• Produttore: Jeol
• Modello: JSM

Dettagli: FE SEM | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: JEOL JSM-6700F FE SEM

1996 HITACHI S-4160

• Produttore: Hitachi
• Modello: S-4160

Dimensione del wafer: 6",8" | Processo: FE SEM | Spedizione: EXW

1999 JEOL JSM-5600

• Produttore: Jeol
• Modello: JSM

Dettagli: CD SEM | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: JEOL JSM-5600 CD SEM