Usata Apparecchiature Di Supporto (Semiconduttori)

CARLZEISS AXIOTON

• Produttore: CARLZEISS

Processo: MICROSCOPIO DI ISPEZIONE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Produttore: Leica

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Produttore: Leica
• Modello: KENSINGTON 300901

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Produttore: Leica
• Modello: KENSINGTON 300901

Processo: Microscopio per l'ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E

• Produttore: Jeol
• Modello: JWS-7500E

Dimensione del wafer: 8" | Processo: Sistema di ispezione dei wafer | Spedizione: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Produttore: CARLZEISS

Processo: MICROSCOPIO DI ISPEZIONE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

EXPEDIUS

Dimensione del wafer: 12" | Processo: CLN DUMMY | Spedizione: EXW

NIDEC IM 15

• Produttore: Nidec-Shimpo

Processo: Ispezione dei wafer | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

LUMONICS SUPERCLEAN

• Produttore: LUMONICS

Dimensione del wafer: 8" | Processo: Sistema di marcatura laser | Spedizione: EXW`

IWATANI LNS-1

• Produttore: IWATANI

Dettagli: Fornitore di azoto liquido | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: Fornitore di azoto liquido IWATANI LNS-1

HP 4145B

• Produttore: HP
• Modello: 4145B

Processo: PARAMETRO DEL SEMICONDUTTORE | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

TEL 303I

• Produttore: Tokyo Electron - TEL
• Modello: 303I

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

TEL INDY PLS

• Produttore: Tokyo Electron - TEL

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

1998 NICOLET MAGNA 560 FT-IR

• Produttore: Nicolet
• Modello: MAGNA 560 FT-IR

Spedizione: EXW

SEMITOOL WST305M

• Produttore: Semitool
• Modello: WST305M

Processo: Cu PLTNG | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW