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Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori) in Corea del Sud

  • NANOMETRICS CALPER-ULTRA

    NANOMETRICS CALPER-ULTRA

    • usata

    • Produttore: Nanometrics

    Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • RUDOLPH S3000

    RUDOLPH S3000

    • usata

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: S3000

    Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2011 RUDOLPH S3000A

    2011 RUDOLPH S3000A

    • usata

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: S3000A

    Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato

    Corea del Sud
  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • usata

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: S3000A

    Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato

    Corea del Sud
  • FEI FEM2010F

    FEI FEM2010F

    • usata

    • Produttore: FEI
    • Modello: FEM2010F

    Dettagli: Doppio raggio | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: FEI FEM2010F Doppio raggio

    Corea del Sud
  • 2003 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

    2003 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

    • usata

    • Produttore: Nanometrics
    • Modello: CALIPERMOSAIC

    Dimensione del wafer: 12" | Processo: Sovrapposizione | Spedizione: EXW`

    Corea del Sud
  • 2013 RODOLPH Meta Pulse 300

    2013 RODOLPH Meta Pulse 300

    • usata

    • Produttore: RODOLPH

    Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW`

    Corea del Sud
  • RODOLPH Meta Pulse 300

    RODOLPH Meta Pulse 300

    • usata

    • Produttore: RODOLPH

    Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW`

    Corea del Sud
  • J.A Woollam VUV-VASE

    J.A Woollam VUV-VASE

    • usata

    • Produttore: J.A Woollam

    Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ellissometro | Spedizione: EXW`

    Corea del Sud
  • 2001 HITACHI S4700-I

    2001 HITACHI S4700-I

    • usata

    • Produttore: Hitachi
    • Modello: S 4700

    Dimensione del wafer: 12" | Processo: Microscopio elettronico a scansione | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • RUDOLPH S3000A

    RUDOLPH S3000A

    • usata

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: S3000A

    Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • LINDA IN5-HI

    LINDA IN5-HI

    • usata

    • Produttore: LINDA

    Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • RUDOLPH FE-3

    RUDOLPH FE-3

    • usata

    • Produttore: Rudolph

    Dimensione del wafer: 8 " | Processo: Ellissometro a fuoco | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • 2008 RAYTEX RXW-800

    2008 RAYTEX RXW-800

    • usata

    • Produttore: RAYTEX

    Dimensione del wafer: 8 " | Processo: SCANSIONE DEL BORDO | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • RUDOLPH Meta Pulse

    RUDOLPH Meta Pulse

    • usata

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: Metapulse

    Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
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