Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori) in Corea del Sud

2014 Veeco, Dektak6M, Alpha Step

• Produttore: Veeco - Sloan
• Modello: Dektak

Numero di serie.: 24278 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Passo Alfa | Attrezzatura: Passo Alfa | Descrizione: N/A

KLA TENCOR, P-15, Profilatore di superficie (Windows NT)

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-15

Numero di serie.: 0704120887 | Quantità: 1 | Dettaglio dell'attrezzatura: Surface Profiler (Windows NT) | Attrezzatura: Profilatore di superficie | Descrizione: Windows NT

2000 KLA 2139

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: 2139

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

2002 MDC SIGNATION

• Produttore: MDC

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

2000 KLA UV-1080

• Produttore: KLA-Tencor

Dimensione del wafer: 6", 8" | Processo: MET | Spedizione: EXW

LASER&PHYSICS SISCAN-2-M7325

• Produttore: LASER&PHYSICS

Processo: Macchina per il test della maschera | Dimensione del wafer: N/A | Spedizione: EXW

2011 HITACHI NB-5000

• Produttore: Hitachi
• Modello: NB5000

Dimensione del wafer: N/A | Processo: FIB Sem | Spedizione: EXW

2006 HITACHI HD2300A

• Produttore: Hitachi
• Modello: HD-2300A

Dimensione del wafer: N/A | Processo: Microscopio elettronico a trasmissione a scansione (STEM) | Spedizione: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 REV.2 | Spedizione: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: CI T1X0 | Spedizione: EXW

METROLOGY Q230

• Produttore: METROLOGY

Dimensione del wafer: 8 "

METROLOGY P2

• Produttore: METROLOGY

KLA P20H

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P20H

Dimensione del wafer: 3

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Produttore: Nanometrics

Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW

HITACHI FB 2100

• Produttore: Hitachi
• Modello: FB-2100