Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori) in Corea del Sud

RUDOLPH Meta Pulse 300

• usata

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

2005 RUDOLPH MP200

• usata

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP200

RUDOLPH Meta Pulse 3

• usata

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• usata

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 12" | Processo: MISURARE LO SPESSORE DEL METALLO | Spedizione: EXW

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• usata

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: MISURAZIONE DELLO SPESSORE DEL FILM | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

KLA TENCOR P-15

• usata

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-15