Semiconduttori » Metrologia / Ispezione (semiconduttori) » Rudolph » Metapulse

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Usata Rudolph Metapulse Metrologia / Ispezione (Semiconduttori)

  • 2004 RUDOLPH METAPULSE200

    2004 RUDOLPH METAPULSE200

    • usata

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: Metapulse 200

    Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

    Corea
  • 2000 RUDOLPH METAPULSE200

    2000 RUDOLPH METAPULSE200

    • usata

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: Metapulse 200

    Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

    Corea
  • 2005 Rudolph Metapulse 200

    2005 Rudolph Metapulse 200

    • usata

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: Metapulse 200

    Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

    Gyeonggi, Corea del Sud
  • 2001 Rudolph Metapulse 200X CU

    2001 Rudolph Metapulse 200X CU

    • usata

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: Metapulse 200

    Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

    Gyeonggi, Corea del Sud
  • 2003 Rudolph Metapulse 200X cu

    2003 Rudolph Metapulse 200X cu

    • usata

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: Metapulse 200

    Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

    Gyeonggi, Corea del Sud
  • RUDOLPH Meta Pulse 200

    RUDOLPH Meta Pulse 200

    • usata

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: Metapulse 200

    Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MISURAZIONE DELLO SPESSORE DEL FILM | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
  • RUDOLPH Meta Pulse

    RUDOLPH Meta Pulse

    • usata

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: Metapulse

    Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

    Corea del Sud