Usata Rudolph Metrologia / Ispezione (Semiconduttori) in Corea del Sud

2008 RUDOLPH NSK 105

• Produttore: Rudolph

Spedizione: EXW

2005 Rudolph Metapulse 200

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

2001 Rudolph Metapulse 200X CU

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

RUDOLPH S3000A

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000A

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato

RUDOLPH S3000A

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000A

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

2003 Rudolph Metapulse 200X cu

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

RUDOLPH WV320

• Produttore: Rudolph
• Modello: WV320

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione macro | Spedizione: EXW`

2000 RUDOLPH MP200

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP200

2008 Rudolph Metapulse Metapulse II 200X CU

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

RUDOLPH S3000

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

RUDOLPH S3000A

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000A

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato | Spedizione: EXW

2010 RUDOLPH WS3840

• Produttore: Rudolph
• Modello: WS3840

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Metrologia 3d delle protuberanze | Spedizione: EXW`

2011 RUDOLPH S3000A

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000A

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato

2011 RUDOLPH S3000A

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000A

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato

RUDOLPH S3000S

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000S

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW