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Usata Rudolph S3000 Metrologia / Ispezione (Semiconduttori)

  • 2012 RUDOLPH S3000A

    2012 RUDOLPH S3000A

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: S3000A

    Dimensione del wafer: 8" | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato | Camera: EXW

    Corea del Sud
  • 2010 RUDOLPH S3000S

    2010 RUDOLPH S3000S

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: S3000S

    Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

    Corea del Sud
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