Semiconduttori » Metrologia / Ispezione (semiconduttori) » Rudolph » S3000 » Corea del Sud

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Usata Rudolph S3000 Metrologia / Ispezione (Semiconduttori) in Corea del Sud

  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: S3000A

    Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato

    Corea del Sud
  • 2012 RUDOLPH S3000A

    2012 RUDOLPH S3000A

    • Produttore: Rudolph
    • Modello: S3000A

    Dimensione del wafer: 8 " | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato | Camera: EXW

    Corea del Sud
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