Usata Rudolph Metrologia / Ispezione (Semiconduttori)

RUDOLPH WV320

• Produttore: Rudolph
• Modello: WV320

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione macro | Spedizione: EXW`

RUDOLPH S3000A

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000A

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato

RUDOLPH S3000A

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000A

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

RUDOLPH S3000

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

RUDOLPH S3000A

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000A

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato | Spedizione: EXW

RUDOLPH WV320 MACRO

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 8 " | Spedizione: EXW

RUDOLPH S3000S

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000S

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

RUDOLPH S3000S

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000S

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

RUDOLPH S3000

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

2000 RUDOLPH MP200

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP200

2010 RUDOLPH WS3840

• Produttore: Rudolph
• Modello: WS3840

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Metrologia 3d delle protuberanze | Spedizione: EXW`

2011 RUDOLPH S3000A

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000A

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato

2011 RUDOLPH S3000A

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000A

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato

2005 RUDOLPH MP200

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP200

2010 RUDOLPH S3000A

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000A

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato | Spedizione: EXW