Usata Rudolph Semiconduttori

RUDOLPH TECHNOLOGIES CV-9812 700275 F INSPECTION SYSTEM CONTROL (BR4B.4B21)

• Produttore: Rudolph

Tipo di attrezzatura/componente: CONTROLLO DEL SISTEMA DI ISPEZIONE | Mpn: CV-9812 | Paese/regione di produzione: Stati Uniti

RUDOLPH TECHNOLOGIES CV-9812 700275 F INSPECTION SYSTEM CONTROL (BR4B.4B21)

• Produttore: Rudolph

Paese/regione di produzione: Stati Uniti | Tipo di attrezzatura/componente: CONTROLLO DEL SISTEMA DI ISPEZIONE | Mpn: CV-9812

RUDOLPH S3000A

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000A

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato

RUDOLPH S3000A

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000A

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

RUDOLPH S3000

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

RUDOLPH S3000A

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000A

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato | Spedizione: EXW

RUDOLPH WV320

• Produttore: Rudolph
• Modello: WV320

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione macro | Spedizione: EXW`

2000 RUDOLPH MP200

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP200

RUDOLPH S3000S

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000S

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

RUDOLPH S3000S

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000S

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

RUDOLPH S3000

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

2011 RUDOLPH S3000A

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000A

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato

2011 RUDOLPH S3000A

• Produttore: Rudolph
• Modello: S3000A

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato

2010 RUDOLPH WS3840

• Produttore: Rudolph
• Modello: WS3840

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Metrologia 3d delle protuberanze | Spedizione: EXW`

2005 RUDOLPH MP200

• Produttore: Rudolph
• Modello: MP200