JEOL JWS-7515
- Produttore: Jeol
- Modello: JWS-7515
Dettagli: Inseparazione del wafer | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: JEOL JWS-7515 Ispezione dei wafer
Corea del Sud
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2011 RUDOLPH S3000A
- Produttore: Rudolph
- Modello: S3000A
Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato
Corea del Sud
2011 RUDOLPH S3000A
- Produttore: Rudolph
- Modello: S3000A
Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato
Corea del Sud
RUDOLPH S3000A
- Produttore: Rudolph
- Modello: S3000A
Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato
Corea del Sud
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HITACHI S4700-II
- Produttore: Hitachi
- Modello: S 4700
Dimensione del wafer: 12" | Processo: FESEM con Horriba EMAX EDX | Spedizione: EXW
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PUDOLPH Meta Pluse3
- Produttore: PUDOLPH
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW
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2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN
- Produttore: Nanometrics
Dimensione del wafer: 12" | Processo: SOVRAPPOSIZIONE | Spedizione: EXW
Corea del Sud
2003 HITACHI RS 4000
- Produttore: Hitachi
- Modello: RS 4000
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Revisione dei difetti Sem | Spedizione: EXW
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1999 NEC NEC SL-473F
- Produttore: NEC
- Modello: SL-473F
Processo: MARCATORE SI WAFER | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW
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2003 HITACHI RS4000
- Produttore: Hitachi
- Modello: RS 4000
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Revisione dei difetti Sem | Spedizione: EXW
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