Usata Metrologia / Ispezione (Semiconduttori) in Corea del Sud

RUDOLPH Meta Pulse 3

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 12" | Processo: Misura dello spessore del film | Spedizione: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• Produttore: Rudolph

Dimensione del wafer: 12" | Processo: MISURARE LO SPESSORE DEL METALLO | Spedizione: EXW

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• Produttore: KLA_TENCOR

Processo: MISURAZIONE DELLO SPESSORE DEL FILM | Dimensione del wafer: * | Spedizione: EXW

KLA TENCOR P-15

• Produttore: KLA-Tencor
• Modello: P-15

HSEB AXIOSPECT 300

• Produttore: HSEB
• Modello: AXIOSPECT 300

Spedizione: EXW

2008 RUDOLPH NSK 105

• Produttore: Rudolph

Spedizione: EXW

2000 RUDOLPH METAPULSE200

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

2001 Rudolph Metapulse 200X CU

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

2005 Rudolph Metapulse 200

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

2008 Rudolph Metapulse Metapulse II 200X CU

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

2014 Lasertec BGM300

• Produttore: Lasertec

Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW

2004 RUDOLPH METAPULSE200

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW

2003 Rudolph Metapulse 200X cu

• Produttore: Rudolph
• Modello: Metapulse 200

Dimensione del wafer: 8 " | Processo: MET | Spedizione: EXW