Corea del Sud
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2011 RUDOLPH S3000A
- Produttore: Rudolph
- Modello: S3000A
Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato
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2011 RUDOLPH S3000A
- Produttore: Rudolph
- Modello: S3000A
Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato
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RUDOLPH S3000A
- Produttore: Rudolph
- Modello: S3000A
Dimensione del wafer: 12 | Spedizione: EXW | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato
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Nanometrics Caliper_MOSAIC
- Produttore: Nanometrics
- Modello: CALIPERMOSAIC
Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: Calibro Nanometrics_MOSAICO
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JEOL JWS-7515
- Produttore: Jeol
- Modello: JWS-7515
Dettagli: Ispezione dei wafer | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: JEOL JWS-7515 Ispezione dei wafer
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2000 RUDOLPH MP200
- Produttore: Rudolph
- Modello: MP200
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2006 HITACHI IS2700E
- Produttore: Hitachi
- Modello: IS-2700SE
Dimensione del wafer: 12" | Dettagli: Ispezione con fascio E | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: Ispezione del fascio E HITACHI IS2700SE
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2010 RUDOLPH WS3840
- Produttore: Rudolph
- Modello: WS3840
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Metrologia 3d delle protuberanze | Spedizione: EXW`
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1998 RODOLPH Meta Pulse 200
- Produttore: RODOLPH
Dimensione del wafer: 8 | 3 dimensioni del wafer: 8" | Spedizione: EXW
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HITACHI S4700-II
- Produttore: Hitachi
- Modello: S-4700
Dimensione del wafer: 12" | Processo: FESEM con Horriba EMAX EDX | Spedizione: EXW
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