Corea del Sud
2010 RUDOLPH S3000A
- Produttore: Rudolph
- Modello: S3000A
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ellissometria laser a fascio focalizzato | Spedizione: EXW
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1990 KLA SFS7200
- Produttore: KLA-Tencor
- Modello: SFS7200
Dimensione del wafer: 8" | Processo: Metrologia | Spedizione: EXW
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1991 KLA SFS7200
- Produttore: KLA-Tencor
- Modello: SFS7200
Dimensione del wafer: 8" | Processo: Metrologia | Spedizione: EXW
Corea del Sud
RUDOLPH WV320
- Produttore: Rudolph
- Modello: WV320
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Ispezione macro | Spedizione: EXW`
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2003 HITACHI RS4000
- Produttore: Hitachi
- Modello: RS 4000
Dimensione del wafer: 12" | Processo: REVISIONE DEI DIFETTI SEM | Spedizione: EXW
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2010 HITACHI IS3200SE
- Produttore: Hitachi
- Modello: IS3200SE
Dimensione del wafer: 12" | Spedizione: EXW
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2010 Kobelco SBW-330
- Produttore: Kobelco
- Modello: SBW-330
Dettagli: Test e metrologia dei wafer | Spedizione: L'imballaggio e la spedizione sono a carico dell'acquirente. | Commenti: SBW-330 Test e metrologia dei wafer
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2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I
- Produttore: Valley
- Modello: JVX6200I
Dimensione del wafer: 12" | Processo: Metrologia a raggi X (riflettività a raggi X) | Spedizione: EXW
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